MarvelProbe便(bian)攜式(shi)反向定位CMM，作(zuo)為(wei)獨立的產品，既兼容攝影測量(liang)模塊，可在大場景下用于提高手持系列掃(sao)描儀(yi)的體積精度，又增加(jia)了(le)接觸式(shi)測量(liang)功能，為(wei)模具生產、檢具質檢和(he)調裝檢測提供了(le)新的更加(jia)靈活便(bian)攜的測量(liang)方式(shi)。

反向定位(wei)光筆，實現接觸式測(ce)量(liang)(liang)功能，結合三維測(ce)量(liang)(liang)軟件可快速(su)對形面、關鍵幾何尺寸及形位(wei)公(gong)差(cha)等進行高精(jing)度檢測(ce)，還可設計自動(dong)輸出檢測(ce)報告，大大簡化質控(kong)流(liu)程。設計有多(duo)角度探針(zhen)(zhen)插孔，并配(pei)有多(duo)型號探針(zhen)(zhen)組，可靈活適(shi)應(ying)不同測(ce)量(liang)(liang)工況，固定場景無需重復(fu)標定，可直(zhi)接測(ce)量(liang)(liang)。

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