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非接觸式掃描測頭

激光測頭：

1.最新(xin)推出的(de) HP-L-5.8 激(ji)光掃描測(ce)(ce)(ce)頭(tou)使得在三坐(zuo)標測(ce)(ce)(ce)量(liang)系統上創建點云(yun)數據變得更(geng)加簡(jian)單、經濟和高效。HP-L-5.8 的(de)固定藍色激(ji)光線廣泛適(shi)用于多種表(biao)(biao)面(mian)(mian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，即使高亮(liang)或(huo)高暗表(biao)(biao)面(mian)(mian)也(ye)可(ke)精準檢測(ce)(ce)(ce)。測(ce)(ce)(ce)頭(tou)靈敏度(du)設置允(yun)許(xu)手動選擇或(huo)自適(shi)應計算，以提(ti)供精確測(ce)(ce)(ce)量(liang)結(jie)果。堅固緊湊的(de)結(jie)構(gou)設計為 HP-L-5.8 的(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)提(ti)供更(geng)多可(ke)能(neng)，即使在狹(xia)小(xiao)的(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)空間內也(ye)能(neng)輕(qing)松實現(xian)自動旋轉測(ce)(ce)(ce)量(liang)。

技術特點：

? 多達5種激光靈敏度，可根(gen)據不同工件表(biao)面，可自動調(diao)整至最佳(jia)功率
? 使用簡便，無(wu)需進行繁瑣的軟硬件設(she)置(zhi)，完(wan)成測頭(tou)校驗即可使用
? 全新結(jie)構設計，防護性能更(geng)優，更(geng)小的(de)外形尺寸，適(shi)應測量空間有(you)限制的(de)應用
? 采點(dian)(dian)效率(lv)高，單秒最大采點(dian)(dian)率(lv)達36000點(dian)(dian)/秒
? 大景(jing)深設置，利于(yu)高低(di)不等的(de)表面檢測

2.HP-L-10.6系統(tong)基于非接(jie)觸(chu)線激光(guang)掃描技術(shu)，相對于傳統(tong)接(jie)觸(chu)式或者點激光(guang)式掃描系統(tong)，大大提高(gao)了數據采(cai)集(ji)速度。獲有專利(li)“飛(fei)點掃描”技術(shu)保證高(gao)精度的完整點云(yun)，對電腦配置無過高(gao)要求。使用簡便，

無需(xu)進行繁瑣的(de)軟硬件(jian)設置。3種線寬、線密度工(gong)作(zuo)方式可(ke)選，可(ke)針對(dui)(dui)現(xian)場實(shi)際(ji)情況進行選擇。精度高(gao)(gao)；對(dui)(dui)于外部環境(jing)光要求低(di)；對(dui)(dui)于高(gao)(gao)亮、高(gao)(gao)暗(an)表(biao)面物體(ti)（如機械加(jia)工(gong)、拋光的(de)表(biao)面），無需(xu)特殊(shu)處理或噴粉即可(ke)完成測量任務;

影像(xiang)測頭:

1.HP-C-VE測(ce)頭(tou)是用于(yu)CMM系統(tong)的光(guang)學影(ying)像測(ce)量(liang)(liang)系統(tong)。2D光(guang)感CCD整合發光(guang)二極管實(shi)現一定視圖區域內(nei)的工(gong)件測(ce)量(liang)(liang)，同(tong)時軟件的光(guang)強調整完善了測(ce)量(liang)(liang)區域的照明條件。在每一個(ge)(ge)視圖區域可(ke)以(yi)同(tong)時選擇一個(ge)(ge)或多(duo)個(ge)(ge)測(ce)量(liang)(liang)對(dui)象（如孔(kong)徑，邊界等）。擁有HP-C-VE系統(tong)可(ke)以(yi)同(tong)時實(shi)現多(duo)傳感器組合完成工(gong)件測(ce)量(liang)(liang)，并可(ke)支持多(duo)種測(ce)頭(tou)更換(huan)架，完成影(ying)像系統(tong)到觸(chu)測(ce)掃描(miao)系統(tong)的轉換(huan)。

光學測(ce)頭：

1.HP-OW光學測頭：應用白光共聚焦(jiao)技術，可針對各種表面工件進行高精度的非接觸(chu)測量。

HP-OW測(ce)(ce)量(liang)(liang)范圍(wei)為(wei)幾毫米，同時實現納米級的分辨率(lv)。±30°的大測(ce)(ce)量(liang)(liang)角(jiao)度，使其(qi)適用(yong)于更多(duo)應用(yong)，從(cong)微(wei)小特(te)征到大面(mian)積(ji)測(ce)(ce)量(liang)(liang)。通過應用(yong)HR-R自動更換架，可(ke)實現與其(qi)它(ta)不(bu)同測(ce)(ce)頭的自動更換。

HP-OW測頭有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61兩種型(xing)號，可根據測量應用選擇不同(tong)的測量范圍(wei)、工作距離(li)等。

2.Precitec LR 是(shi)超高(gao)(gao)精度共焦傳(chuan)感(gan)(gan)器(qi)。不僅可(ke)以(yi)精密測量(liang)各種(zhong)復雜、敏感(gan)(gan)、各種(zhong)材料的工(gong)件表面(mian)(mian)要素，還可(ke)以(yi)對各種(zhong)材料的高(gao)(gao)反射表面(mian)(mian)，拋(pao)光表面(mian)(mian)，易損(sun)傷(shang)表面(mian)(mian)以(yi)及暗表面(mian)(mian)測量(liang)。擁有當前市場上(shang)最高(gao)(gao)的納(na)米級分辨率。可(ke)實現在同一(yi)程序(xu)中與各種(zhong)測頭的自(zi)動更換。

3.HP-O：HP-O是用于(yu)單(dan)點或掃描模式(shi)下光(guang)學測(ce)(ce)(ce)量(liang)的固定(ding)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)解決方案。它(ta)使用的LSP-S2O測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)可(ke)以與接觸式(shi)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)使用標準(zhun)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)(tou)更換(huan)架(jia)互(hu)換(huan)。它(ta)是旋(xuan)轉對稱部件與易于(yu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)的標準(zhun)幾何(he)形(xing)狀的理想選擇。

HP-O Hybrid 將光學(xue)(xue)測針和(he)(he)接觸式測針結合在同(tong)一配置中，HP-O Hybrid允(yun)許設(she)置多達(da)5根(gen)測針，最多包括4根(gen)光學(xue)(xue)測針。它(ta)可以在不更(geng)換測頭的(de)(de)情況下(xia)實現測量技(ji)術之間的(de)(de)即時切(qie)換，使其成為高效和(he)(he)高精度關鍵測量的(de)(de)理(li)想選擇(ze)。

HP-O Flex：HP-O Flex使用HH-AS-OT2.5分(fen)度測(ce)(ce)(ce)頭(tou)使用戶能夠在(zai)12240個(ge)不同的測(ce)(ce)(ce)頭(tou)位置加(jia)載(zai)光(guang)學測(ce)(ce)(ce)針(zhen)，使其成為需(xu)要高度可達性的復雜幾何部件檢測(ce)(ce)(ce)的理想選擇。也可以使用標準(zhun)測(ce)(ce)(ce)針(zhen)更換架與(yu)接觸式測(ce)(ce)(ce)針(zhen)互換。

HP-O Adjudtable：HP-O Adjudtable是一個帶有三(san)軸接(jie)口(kou)的(de)(de)固定式(shi)傳感器(qi)，可以(yi)在測量(liang)空間(jian)內完成(cheng)測量(liang)角(jiao)度的(de)(de)無極(ji)調(diao)整，以(yi)適應更復雜的(de)(de)測量(liang)任務。例如：無軸向(xiang)平行特征(zheng)的(de)(de)旋轉對稱零(ling)件。

HP-O Multi：HP-O Multi是一(yi)種多光路固定式(shi)光學測(ce)量方(fang)案，攜(xie)帶多達6種不(bu)同測(ce)針，校準(zhun)后的測(ce)針可以采集接觸(chu)式(shi)測(ce)針難以觸(chu)及的特征(zheng)。

HP-O Flex 90：HP-O Flex 90將光學(xue)測(ce)頭(tou)的(de)分(fen)度頭(tou)以90度的(de)角度安裝，使光學(xue)測(ce)頭(tou)可繞分(fen)度頭(tou)的(de)B軸旋轉。它是(shi)測(ce)量需要水平(ping)找(zhao)正(zheng)的(de)零件（如葉(xie)盤(pan)）的(de)理想選擇。

技術特點

產品參數