海克(ke)斯康(kang) X-METRO 橋式三坐(zuo)標測(ce)量機(ji)集多功(gong)能(neng)(neng)、高效(xiao)(xiao)能(neng)(neng)與(yu)成本效(xiao)(xiao)益于一身,為您(nin)的(de)產品(pin)尺(chi)寸檢(jian)測(ce)帶(dai)來(lai)前所(suo)未(wei)有的(de)便(bian)利與(yu)信心。從產品(pin)設計(ji)之(zhi)初到最終質(zhi)量認可,X-METRO 測(ce)量機(ji)都以其(qi)卓越(yue)的(de)性能(neng)(neng),全程陪伴您(nin)的(de)產品(pin)生(sheng)命周期。它適用于各種形(xing)狀和尺(chi)寸的(de)工件,可以匹配不同行業的(de)多樣化檢(jian)測(ce)需求,確保您(nin)的(de)生(sheng)產流程始(shi)終高效(xiao)(xiao)、精準。
200 年技術沉淀 - 更具性價比的高端技術
X-METRO 橋式(shi)三坐標測(ce)量機,引入(ru)了海克(ke)斯康明(ming)星產品的(de)經典設計(ji),如全鋁(lv)框架、精密(mi)三角橫梁(liang)和(he)整體(ti)燕尾式(shi)導軌(gui)等, 在(zai)設計(ji)過程中(zhong)(zhong)廣泛運(yun)用計(ji)算機輔助設計(ji)中(zhong)(zhong)的(de)有(you)限元分(fen)析原理(li)和(he)模(mo)塊化(hua)設計(ji)原理(li),提高了整機空間結(jie)構(gou)的(de)穩定(ding)性(xing),降低了結(jie)構(gou)微形變、振(zhen)動(dong)以(yi)及溫度梯度變化(hua)對測(ce)量性(xing)能的(de)影響(xiang)。閉環式(shi)分(fen)布空氣軸承(cheng)設計(ji)優化(hua)了測(ce)量機各軸的(de)機械運(yun)動(dong) , 因(yin)此(ci),整機系(xi)統(tong)(tong)在(zai)測(ce)量過程中(zhong)(zhong)表現出極高的(de)重復性(xing)和(he)系(xi)統(tong)(tong)長期的(de)穩定(ding)性(xing)。
2 大測量系統 - 無懼中小企業全方位計量場景
X-METRO 橋式(shi)三坐標測量機,可配(pei)備觸發式(shi)或掃描式(shi)傳(chuan)感器(qi)和附件,提供(gong)靈活(huo)的(de)測量方式(shi)和豐富探測能力,充(chong)分支持各種計量場景。
掃描式測量系統
HP-S-X1S 測(ce)(ce)頭系統是高(gao)速、高(gao)精度的(de)可分度三維掃描(miao)(miao)模擬(ni)測(ce)(ce)頭。 它同時(shi)兼容(rong)觸發(fa)和掃描(miao)(miao)功能(neng),支持(chi)所(suo)有標準的(de)探(tan)測(ce)(ce)模式:單點測(ce)(ce)量(liang)、自(zi)定(ding)心測(ce)(ce)量(liang)和連續(xu)高(gao)速掃描(miao)(miao)測(ce)(ce)量(liang),可完成各種復(fu)(fu)雜(za)的(de)測(ce)(ce)量(liang)任務,包括復(fu)(fu)雜(za)輪廓和外形的(de)掃描(miao)(miao)。由于采用觸發(fa)方(fang)式進(jin)行(xing)校(xiao)驗(yan),因(yin)而校(xiao)驗(yan)所(suo)需的(de)時(shi)間很(hen)短(duan)。HP-S-X1S 具(ju)備緊湊的(de)結(jie)構,直徑僅 30mm, 可最(zui)大限度的(de)接(jie)近待測(ce)(ce)工件,并可深(shen)入工件內(nei)部進(jin)行(xing)測(ce)(ce)量(liang),允許探(tan)針總長(chang)度范圍豎直方(fang)向在20-115mm,水平方(fang)向0-20mm之間。
接觸式測量系統
HP-TMe 觸發式傳感器(qi)具備(bei) 5 方向測(ce)(ce)量能(neng)力,可以可靠地記錄單(dan)個測(ce)(ce)量點,并提供(gong)卓越的測(ce)(ce)量精度(du)和重(zhong)復性(xing),最(zui)大測(ce)(ce)針長(chang)度(du)可達60mm,最(zui)小可兼(jian)容(rong) 0.3mm 直徑測(ce)(ce)針。
HP-TMe 由探測(ce)體和可拆卸的測(ce)頭模(mo)塊(kuai)組成,在(zai)測(ce)量過程中無需重復校驗即可快速實(shi)現測(ce)頭模(mo)塊(kuai)的手動(dong)或自(zi)動(dong)更換。
HP-THDe 觸發式(shi)傳感(gan)器應(ying)(ying)用(yong)創(chuang)新(xin)型光(guang)學機械設計(ji), 可提(ti)供高重復精(jing)度(du)的(de) 3D 測(ce)量(liang),能(neng)夠實現 X、Y 和 Z 方(fang)向(xiang)的(de) 6D 測(ce)量(liang)。HP-THDe 適(shi)用(yong)于公差嚴格、高效率觸發的(de)測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)。同時(shi)適(shi)用(yong)于長測(ce)針(zhen)的(de)應(ying)(ying)用(yong)需(xu)求(qiu),可攜帶最長達 100mm 的(de)測(ce)針(zhen)。采(cai)用(yong)自適(shi)應(ying)(ying)觸發方(fang)式(shi),可以由測(ce)量(liang)軟件和控制系統控制。當(dang)加(jia)載一個新(xin)的(de)測(ce)針(zhen)時(shi),自適(shi)應(ying)(ying)觸發器會自動(dong)調整參數,確保始終保持最佳的(de)測(ce)量(liang)性能(neng)。
多樣化場景應用
X-METRO 三坐標測(ce)量(liang)機因其(qi)高(gao)精(jing)度和(he)可靠(kao)性,被廣泛應用于(yu)機械制(zhi)造(zao)、汽車、航空(kong)航天、電子設備、模(mo)具(ju)制(zhi)作(zuo)等多個行業(ye)。該設備能夠(gou)對工件的(de)尺(chi)寸、形狀以及形位公差進行精(jing)確檢測(ce),確保零(ling)件的(de)質量(liang)控制(zhi)、外(wai)形測(ce)量(liang)和(he)過程(cheng)控制(zhi)等關(guan)鍵任務(wu)的(de)高(gao)效(xiao)完成,從而提升產品的(de)整體質量(liang)和(he)生產效(xiao)率。
10 萬 + 測量軟件用戶首選 - 直觀助力精準數字化
作為(wei)世界頂(ding)級的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)軟件,PC-DMIS 憑借多年來全球各行業測(ce)(ce)量(liang)應用(yong)的(de)(de)經(jing)驗累積和對技術創新的(de)(de)不懈追求,被廣(guang)泛(fan)應用(yong)于各種尺寸(cun)、形狀和位置的(de)(de)幾何(he)量(liang)測(ce)(ce)量(liang)領域。同時,PC-DMIS 以其友好(hao)的(de)(de)用(yong)戶界面、全面涵蓋(gai)國(guo)際通用(yong)標準的(de)(de)專(zhuan)業評價能力,為(wei)廣(guang)大用(yong)戶提供(gong)權威的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)結(jie)果及(ji)實用(yong)、便捷的(de)(de)操作性能。
PC-DMIS PREMIUM 將 CAD 與測量技術聯合到(dao)一(yi)起(qi),為直觀(guan)、高效計量提供了完美的解(jie)決方案(an)。完善的三維 CAD 模擬功能(neng),可同步導入測量機(ji)、工件、夾具的數字化 CAD 模型,便于進行脫(tuo)機(ji)編程及直觀(guan)形象(xiang)的模擬實際檢(jian)測過(guo)程;
可 識 別 VDAFS、IGES、DXF、DWG、STEP、XYZIJK、STL 和 DES 格式的(de) CAD 文件; 未知工件表面數(shu)據點云的(de)采集(ji),支持逆向工程(cheng)。
豐富強大的(de) CAD 應(ying)用功能:可(ke)(ke)同時導入多個 CAD 圖(tu)形(xing),建(jian)立(li)相應(ying)的(de)圖(tu)層(ceng),按(an)需檢測(ce)(ce)所需尺寸; 可(ke)(ke)實現(xian)基于 CAD 模型(xing)零件(jian)測(ce)(ce)量(liang)前的(de)路徑模擬和碰撞檢測(ce)(ce);任意(yi)選用曲線、曲面兩種模式(shi)(shi)的(de) CAD 特(te)征(zheng)讀取(qu)方式(shi)(shi),靈活掌(zhang)控任意(yi)復(fu)雜特(te)征(zheng)的(de)測(ce)(ce)點(dian)(dian)分布(bu),實現(xian)高(gao)效精準(zhun)的(de)“即點(dian)(dian)即測(ce)(ce)”